Người đứng đơn tố cáo là nhà khoa học dữ liệu George Hayward, cựu nhân viên Meta, công ty mẹ của Facebook.

Chia sẻ với báo New York Times, nhà khoa học dữ liệu này khẳng định Facebook âm thầm hút kiệt pin điện thoại di động người dùng dưới danh nghĩa thử nghiệm tính năng hoặc phản hồi về sự cố ứng dụng. Phương pháp này được gọi là "thử nghiệm tiêu cực".

George Hayward, 33 tuổi, đầu quân cho Meta từ năm 2019 nhưng bị sa thải vào tháng 11 năm ngoái. Anh cho biết sở dĩ bị sa thải bởi từ chối thực hiện các yêu cầu thử nghiệm do việc này có thể gây hại cho người dùng.
Sau khi bị cho nghỉ việc, Hayward kiện Meta lên tòa án liên bang Manhattan. "Tôi đã nói với người quản lý điều này có thể gây hại đến người dùng và nhận được phản hồi rằng cách làm hại một số ít người sẽ giúp họ giúp đỡ được số đông" - Hayward viết trong đơn kiện.

"Nguyên tắc của bất cứ nhà khoa học dữ liệu nào là không làm tổn hại người dùng. Việc cố ý làm cạn kiệt pin của điện thoại di động thông minh có thể khiến người dùng gặp rủi ro, đặc biệt là trong một số trường hợp khẩn cấp" - Hayward chia sẻ.

Theo Hoàng Yên/ĐS&PL.com

Link bài gốc